(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211148740.0 (22)申请日 2022.09.21 (71)申请人 高新兴物联科技股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市南 山区西丽 街 道松坪山社区科苑北路78号共享大厦 A座606 (72)发明人 秦艳莉　巫勤民　 (74)专利代理 机构 深圳协成知识产权代理事务 所(普通合伙) 44458 专利代理师 伍永森 (51)Int.Cl. G01R 31/28(2006.01) G06F 21/60(2013.01) (54)发明名称 基于ESIM卡的电路检测方法、 电子设备及存 储介质 (57)摘要 本发明公开了一种基于ESIM卡的电路检测 方法、 电子设备及存储介质， 属于通信技术领域， 其中， 该基于ESIM卡的 电路检测方法包括： 当接 收到第一转换指令时， 将所述ESIM卡转换为射频 测试卡； 通过所述射频测试卡对 所述电子设备的 硬件电路进行检测； 当接收到第二转换指令时， 将所述射频测试卡恢复为所述ESIM卡。 通过采用 该技术方案， 在进行整机的电路检测时， 通过第 一转换指令将电子设备中的ESIM卡转换为射频 测试卡， 并基于该射频测试卡完成电子设备的硬 件电路检测， 避免了整机不良， 进而提升用户体 验。 权利要求书1页 说明书7页 附图3页 CN 115469212 A 2022.12.13 CN 115469212 A 1.一种基于ESIM卡的电路检测方法， 应用于包括ESIM卡的电子设备， 其特征在于， 所述 方法包括： 当接收到第一 转换指令时， 将所述ESIM卡 转换为射频测试卡； 通过所述射频测试卡对所述电子设备的硬件电路进行检测； 当接收到第二 转换指令时， 将所述 射频测试卡恢复为所述ESIM卡。 2.根据权利要求1所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 在所述当接收到第 一转换指令时， 将所述ESIM卡 转换为射频测试卡之前， 所述方法还 包括： 在所述电子设备 上电之后， 对所述ESIM卡进行在位检测； 当所述ESIM卡在位时， 输出关于所述ESIM卡在位的提 示信息。 3.根据权利要求2所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述在所述电子设 备上电之后， 对所述ESIM卡进行在位检测包括： 在所述电子设备上电之后， 检测ESIM卡检测引脚的电平状态， 当所述电平状态满足预 设条件时， 判定所述ESIM卡在位。 4.根据权利要求1所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述当接收到第一 转换指令时， 将所述ESIM卡 转换为射频测试卡包括： 当接收到第一转换指令时， 对所述ESIM卡进行反编译， 将所述ESIM卡的鉴权打开并将 所述ESIM卡的加密 密钥修改为预设密钥。 5.根据权利要求4所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述通过所述射频 测试卡对所述电子设备的硬件电路进行检测包括： 通过所述射频测试卡， 基于所述预设密钥对所述电子设备的硬件电路进行检测。 6.根据权利要求4所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述当接收到第二 转换指令时， 将所述 射频测试卡恢复为所述ESIM卡包括： 当接收到第二转换指令时， 将所述预设密钥恢复为所述ESIM卡的加密密钥， 并将所述 ESIM卡恢复至其被转换为 射频测试卡之前的初始状态。 7.根据权利要求1所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述通过所述射频 测试卡对所述电子设备的硬件电路进行检测包括： 通过所述射频测试卡以耦合的方式接收测试指令和反馈测试 结果。 8.根据权利要求1所述的基于ESIM卡的电路检测方法， 其特征在于， 所述第一转换指令 和第二转换指令通过 所述电子设备的用户输入单 元接收。 9.一种电子设备， 其特征在于， 所述电子设备包括： ESIM卡、 存储器、 处理器及存储在所 述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序； 所述计算机程序被所述处理器执行时 实现如权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质上存储有基于 ESIM卡的电路检测程序， 所述基于ESIM卡的电路检测程序被处理器执行时实现如权利要求 1至8中任一项所述的基于 ESIM卡的电路检测方法的步骤。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115469212 A 2基于ESIM卡的电路检测方 法、 电子设备及存储介质 技术领域 [0001]本发明涉及通信技术领域， 具体涉及一种基于ESIM卡(Embedded ‑SIM， 嵌入式SIM 卡)的电路检测方法、 电子设备及存 储介质。 背景技术 [0002]随着电子技术的发展与进步， 传统SIM卡占用布局空间大、 易损坏和易丢失的问题 逐渐暴露出来， 因而取代传 统SIM卡的ESIM应运而生， 并被广泛应用于可穿戴设备、 平板电 脑、 PC以及其 他终端， 如智能音箱、 智能后视 镜、 POS机等。 [0003]目前对电子设备的测试方案一般是在未组装 成整机之前， 通过电路模块预留的测 试接口， 使用夹具和专 业的测试仪表先对电路模块进 行测试， 实现对不良电路模块的筛选。 然而， 在装整机的过程中， 可能由于暴力、 整机硬件器件不良， PCB故 障等原因， 导致整机成 为质量不合格的次品。 而此时， 电路模块处于整机外壳的内部， 预留的测试接口被封装在 内， 因此， 无法对整机进行电路测试。 发明内容 [0004]有鉴于此， 本发明实施例的目的在于提供一种基于ESIM卡的电路检测方法、 电子 设备及存储介质， 以解决目前在完成电子设备 的整机组装后， 无法对整机进行电路检测的 技术问题。 [0005]本发明解决上述 技术问题所采用的技 术方案如下： [0006]根据本发明实施例的一个方面， 提供一种基于ESIM卡的电路检测方法， 应用于包 括ESIM卡的电子设备， 该 方法包括： [0007]当接收到第一 转换指令时， 将所述ESIM卡 转换为射频测试卡； [0008]通过所述射频测试卡对所述电子设备的硬件电路进行检测； [0009]当接收到第二 转换指令时， 将所述 射频测试卡恢复为所述ESIM卡。 [0010]可选地， 在所述当接收到第一转换指令时， 将所述ES IM卡转换为射频测试卡之前， 所述方法还 包括： [0011]在所述电子设备 上电之后， 对所述ESIM卡进行在位检测； [0012]当所述ESIM卡在位时， 输出关于所述ESIM卡在位的提 示信息。 [0013]可选地， 所述在所述电子设备 上电之后， 对所述ESIM卡进行在位检测包括： [0014]在所述电子设备上电之后， 检测ESIM卡检测引脚的电平状态， 当所述电平状态满 足预设条件时， 判定所述ESIM卡在位。 [0015]可选地， 所述当接收到第一 转换指令时， 将所述ESIM卡 转换为射频测试卡包括： [0016]当接收到第一转换指令时， 对所述ESIM卡进行反编译， 将所述ESIM卡的鉴权打开 并将所述ESIM卡的加密 密钥修改为预设密钥。 [0017]可选地， 所述 通过所述射频测试卡对所述电子设备的硬件电路进行检测包括： [0018]通过所述射频测试卡， 基于所述预设密钥对所述电子设备的硬件电路进行检测。说　明　书 1/7 页 3 CN 115469212 A 3