(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221408849.9 (22)申请日 2022.06.07 (73)专利权人 奕瑞影像科技 （海宁） 有限公司 地址 314000 浙江省嘉兴 市海宁市海昌街 道海宁经济开发区隆兴路118号B座 1512室 (72)发明人 辛胜　袁钰函　朱翀煜　金利波　 (74)专利代理 机构 上海光华专利事务所(普通 合伙) 31219 专利代理师 余明伟 (51)Int.Cl. G01B 11/24(2006.01) G01B 11/06(2006.01) G01N 21/954(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种滤线栅检测装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种滤线栅检测装置， 该 滤线栅检测装置包括暗箱、 探测器和光源， 其中， 光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端， 探测器 放置于暗箱的内部， 并且位于光源的下方， 光源 发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。 使用本 实用新型所述的滤线栅检测装置进行检测时， 光 源在暗箱内透过滤线栅后投射至探测器上， 在探 测器上形成清晰的滤线栅的形貌， 快速有效的检 测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况， 避免了人 工检测的误差， 有效提高了检测 效率， 降低了人 工成本。 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 CN 217786115 U 2022.11.11 CN 217786115 U 1.一种滤线栅检测装置， 其特 征在于， 包括： 暗箱； 光源， 设置 于所述暗箱内且设置 于所述暗箱的顶端； 探测器， 放置于所述暗箱内， 并且位于所述光源的下方， 所述光源发出的光线透过滤线 栅投射至所述探测器上。 2.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置， 其特 征在于， 还 包括： 升降装置， 设置于所述暗箱内且设置于所述暗箱 的底端， 所述探测器放置于所述升降 装置靠近所述光源的一侧。 3.根据权利要求2所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述升降装置沿所述暗箱的底 端至顶端依次包括： 底座， 与所述暗箱的底端贴合； 升降机构， 与所述底座固定连接， 并沿所述暗箱的底端向顶端往复移动； 置物台， 与所述升降机构固定连接， 并跟随所述升降机构移动， 所述探测器设置于所述 置物台上。 4.根据权利要求3所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述置物台在靠近所述升降机 构的表面 边缘安装有高度微调装置 。 5.根据权利要求2所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述升降装置的横截面积小于 所述暗箱的横截面积。 6.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置， 其特 征在于， 还 包括： 防散射装置， 覆盖所述探测器的表面， 穿过滤光栅的光透过所述防散射装置至所述探 测器。 7.根据权利要求6所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述防散射装置为光纤板或平 行光管。 8.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述光源的周围还覆盖有光纤 罩， 以将所述 光源发出的光汇聚为锥形。 9.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述暗箱的箱壁表面覆盖有避 光材料。 10.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置， 其特征在于， 所述探测器的像素大小小于 或等于50 μm。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217786115 U 2一种滤线栅检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型 涉及滤线栅检测技 术领域， 具体涉及一种滤线栅检测装置 。 背景技术 [0002]在拍摄骨骼、 腰脊椎、 盆骨等人体组织X射线图像时， 由于这些组织部位密度相对 较大， 对X射线吸收率比较高， 要使图像清晰就要使用大剂量的X射线。 但当剂量较大时， 这 些射线会有很大程度的散射， 影响图像质量； 为了吸收这些散射线， 目前采用的方法是在探 测器前放置滤线栅， 滤线栅可以吸收掉那些方向交错无序的散射线。 为了能够使滤线栅有 效发挥其作用， 滤线栅的生产质量尤为关键 。 [0003]目前， 在滤线栅的生产检测环节， 主要通过人为观测显微镜下的滤线栅的形貌， 判 断滤线栅是否符合生产要求。 但是， 检测人员 之间的主观判定易造成误差， 成本高且效率 低。 [0004]因此， 如何提高滤线栅的检测效率成为本领域 技术人员亟需解决的问题。 实用新型内容 [0005]鉴于以上所述现有技术的缺点， 本实用新型的目的在于提供一种滤线栅检测装 置， 以提高在生产检测环 节的检测滤线栅的效率， 降低检测误差 。 [0006]为了实现上述目的及其 他相关目的， 本实用新型提供一种滤线栅检测装置， 包括： [0007]暗箱； [0008]光源， 设置 于暗箱内且设置 于暗箱的顶端； [0009]探测器， 放置于暗箱内， 并且位于光源的下方， 光源发出的光线透过滤线栅投射至 探测器上。 [0010]可选地， 还 包括： [0011]升降装置， 设置于暗箱内且设置于暗箱的底端， 探测器放置于升降装置靠近光源 的一侧。 [0012]可选地， 升降装置沿暗箱的底端至顶端依次包括： [0013]底座， 与暗箱的底端贴合； [0014]升降机构， 与底座固定连接， 并沿暗箱的底端向顶端往复移动； [0015]置物台， 与升降机构固定连接， 并跟随升降机构移动， 探测器设置 于置物台上。 [0016]可选地， 置物台在靠 近升降机构的表面 边缘安装有高度微调装置 。 [0017]可选地， 升降装置的横截面积小于暗箱的横截面积。 [0018]可选地， 还 包括： [0019]防散射装置， 覆盖 探测器的表面， 使穿过 滤光栅的光透过防散射装置 至探测器。 [0020]可选地， 防散射装置为 光纤板或平行光管。 [0021]可选地， 光源的周围还覆盖有光纤罩， 以将光源发出的光汇聚为锥形。 [0022]可选地， 暗箱的箱壁表面覆盖有 避光材料。说　明　书 1/5 页 3 CN 217786115 U 3